介質損耗測量儀廠家是發電(dian)(dian)(dian)廠、變電(dian)(dian)(dian)站(zhan)等現場(chang)或實驗室(shi)測試各種高壓(ya)電(dian)(dian)(dian)力設備介損正切值及電(dian)(dian)(dian)容量的高精度(du)測試儀器。儀器為一體化(hua)結構，內置介損測試電(dian)(dian)(dian)橋，可變頻調壓(ya)電(dian)(dian)(dian)源，升壓(ya)變壓(ya)器和SF6 高穩定度(du)標準電(dian)容器(qi)。測試(shi)(shi)高壓(ya)源由儀器(qi)內部的逆(ni)變(bian)(bian)器(qi)產生，經(jing)變(bian)(bian)壓(ya)器(qi)升壓(ya)后用于被試(shi)(shi)品測試(shi)(shi)。頻率可(ke)變(bian)(bian)為(wei)45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用(yong)數(shu)字陷波技術，避開了(le)(le)工頻電(dian)場對(dui)測(ce)試的干擾(rao)，從根(gen)本上解(jie)決了(le)(le)強(qiang)電(dian)場干擾(rao)下(xia)準確測(ce)量的難題。同時適用(yong)于全部停電(dian)后(hou)用(yong)發電(dian)機(ji)供電(dian)檢(jian)測(ce)的場合(he)。

介質損耗測量儀廠家特點：

超大液晶中文顯示

儀器配備了大(da)屏幕（105mm×65mm）中(zhong)文菜(cai)單界面，屏顯分為左(zuo)右兩部分，左(zuo)邊為功(gong)能菜(cai)單區，右邊為相(xiang)關狀態信息提示(shi)，每一步都(dou)非常清楚，操作(zuo)人員(yuan)不需要專業培(pei)訓就能使用。一次操作(zuo)，微機(ji)自動(dong)完成全過程的測量，是(shi)目(mu)前非常理想的介損測量設(she)備。

海量(liang)存儲數(shu)據

儀器內部配(pei)備有日(ri)歷芯(xin)片和大容量(liang)存(cun)儲器，能將檢測結果按時間順序保(bao)存(cun)，隨(sui)時可以查(cha)看歷史記錄(lu)，并可以打印輸出；

科學*數據管理

儀器數據可以通過U盤導出，可在任意一臺PC機上通過我公司軟件，查看和管理(li)數據并(bing)可(ke)生成工作報告。

多種(zhong)測試模式

儀器能夠分別使用內高(gao)(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)(gao)壓(ya)、內標準(zhun)、外(wai)標準(zhun)、正接(jie)法(fa)、反接(jie)法(fa)、自激法(fa)等多種(zhong)方(fang)式測試；在外(wai)標準(zhun)外(wai)高(gao)(gao)壓(ya)情況下可以做高(gao)(gao)電壓(ya)（大于(yu)10kV）介(jie)質損耗。

多重保護(hu)安全(quan)可(ke)靠

儀器(qi)具備(bei)輸入電壓波動、輸出短路(lu)、過(guo)壓、過(guo)流(liu)、溫度等多重保護措施，保證(zheng)了(le)儀器(qi)安(an)全(quan)、可靠。儀器(qi)還(huan)具備(bei)接(jie)地檢測功(gong)能，確保不接(jie)地設備(bei)不允許(xu)升壓。

工作原(yuan)理

在交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓作用下，電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)能，這(zhe)(zhe)部分電(dian)(dian)(dian)能將轉變(bian)為熱(re)能產(chan)生損耗(hao)。這(zhe)(zhe)種(zhong)能量損耗(hao)叫(jiao)做電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)的(de)損耗(hao)。當電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)上(shang)施(shi)加交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓時，電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)中的(de)電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流(liu)間成(cheng)在相(xiang)角(jiao)差ψ，ψ的(de)余(yu)角(jiao)δ稱為介質(zhi)損耗(hao)角(jiao)，δ的(de)正切(qie)tgδ稱(cheng)為介質損(sun)耗角正切。tgδ值是用(yong)來衡量電介質損耗的(de)參(can)數。儀器測量線路(lu)包括一標準回路(lu)（Cn）和一被(bei)試回路(Cx)，如(ru)圖2—1所示。標準回路(lu)(lu)由(you)內(nei)置高(gao)穩定度標準電容器(qi)與測(ce)量(liang)(liang)線路(lu)(lu)組成，被試(shi)回路(lu)(lu)由(you)被試(shi)品(pin)和(he)測(ce)量(liang)(liang)線路(lu)(lu)組成。測(ce)量(liang)(liang)線路(lu)(lu)由(you)取樣電阻與前置放大(da)器(qi)和(he)A/D轉換(huan)器組成。通(tong)過測量電路分別測得標準回路電流(liu)與被試(shi)回路電流(liu)幅值(zhi)(zhi)及其(qi)相(xiang)位(wei)差(cha)，再由數(shu)(shu)字信號處理器運用(yong)數(shu)(shu)字化實時采(cai)集方法，通(tong)過矢量運算得出試(shi)品的電容值(zhi)(zhi)和(he)介(jie)質損耗正切值(zhi)(zhi)。儀(yi)器內部已經采(cai)用(yong)了抗干擾(rao)措施，保證在外電場干擾(rao)下準確測量。

主要技術參數