介質損耗測試儀報價是(shi)發電(dian)廠、變電(dian)站(zhan)等現(xian)場或實驗(yan)室測(ce)試各種高(gao)壓(ya)電(dian)力設備介損(sun)正切值及電(dian)容(rong)量的(de)高(gao)精度測(ce)試儀(yi)器(qi)。儀(yi)器(qi)為(wei)一體化結構，內(nei)置介損(sun)測(ce)試電(dian)橋，可變頻(pin)調壓(ya)電(dian)源，升壓(ya)變壓(ya)器(qi)和SF6 高穩定(ding)度(du)標(biao)準電容器。測試高壓源由儀(yi)器內部的逆變(bian)器產生，經變(bian)壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變(bian)為45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用(yong)數字陷波(bo)技術，避開了(le)工(gong)頻電(dian)(dian)場對(dui)測(ce)試的(de)干擾(rao)，從根本上(shang)解決了(le)強電(dian)(dian)場干擾(rao)下準確(que)測(ce)量的(de)難題。同時適(shi)用(yong)于全部停電(dian)(dian)后用(yong)發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)檢測(ce)的(de)場合。

介質損耗測試儀報價特點：

超大液晶中文顯示

儀(yi)器配備了(le)大屏(ping)幕（105mm×65mm）中文菜單(dan)界面(mian)，屏顯分為左右兩部分，左邊為功能(neng)菜單(dan)區，右邊為相關狀態信息提示，每一步都非常(chang)清楚，操作人員不需要專(zhuan)業培訓就能(neng)使用。一次操作，微機自(zi)動完成(cheng)全過程(cheng)的測量(liang)，是目(mu)前非常(chang)理想的介損(sun)測量(liang)設(she)備。

海量存儲數據

儀器內部配備有日歷(li)芯片和大容量(liang)存(cun)儲(chu)器，能將檢測(ce)結果按時(shi)(shi)間順(shun)序保存(cun)，隨時(shi)(shi)可以(yi)查看(kan)歷(li)史記錄，并(bing)可以(yi)打印(yin)輸(shu)出；

科學*數據管理(li)

儀器數據可以通過(guo)U盤(pan)導(dao)出，可在任意一臺PC機上通過我(wo)公(gong)司軟件，查看和管理數據(ju)并可生成工(gong)作報告。

多種(zhong)測試模式

儀(yi)器能(neng)夠分別使用內高(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)壓(ya)、內標準(zhun)、外(wai)標準(zhun)、正接法、反(fan)接法、自(zi)激法等多(duo)種方式(shi)測(ce)試(shi)；在外(wai)標準(zhun)外(wai)高(gao)壓(ya)情況下(xia)可(ke)以做高(gao)電壓(ya)（大于10kV）介質損耗。

多重(zhong)保護安全可(ke)靠

儀(yi)器具備輸入電壓波動、輸出短路、過(guo)壓、過(guo)流、溫度等多重保護措(cuo)施，保證了儀(yi)器安(an)全、可(ke)靠。儀(yi)器還具備接地檢測功(gong)能，確(que)保不(bu)接地設備不(bu)允許(xu)升壓。

工作原理

在交流電(dian)(dian)(dian)壓作用下，電(dian)(dian)(dian)介質要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)，這(zhe)部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)將(jiang)轉變為熱(re)能(neng)產(chan)生損(sun)耗(hao)。這(zhe)種能(neng)量損(sun)耗(hao)叫(jiao)做電(dian)(dian)(dian)介質的(de)損(sun)耗(hao)。當電(dian)(dian)(dian)介質上施加交流電(dian)(dian)(dian)壓時，電(dian)(dian)(dian)介質中的(de)電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流間成在相角差ψ，ψ的(de)余(yu)角δ稱為介質損(sun)耗(hao)角，δ的(de)正(zheng)切(qie)tgδ稱為(wei)介質(zhi)損耗角正切。tgδ值是(shi)用來(lai)衡量(liang)電介質損(sun)耗(hao)的(de)參數(shu)。儀器(qi)測量(liang)線路包括(kuo)一標準回路（Cn）和(he)一被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標準回路(lu)由(you)(you)內置(zhi)(zhi)高穩(wen)定度標準電容器(qi)與(yu)測(ce)量線(xian)路(lu)組成(cheng)，被試回路(lu)由(you)(you)被試品和(he)測(ce)量線(xian)路(lu)組成(cheng)。測(ce)量線(xian)路(lu)由(you)(you)取樣電阻與(yu)前置(zhi)(zhi)放大器(qi)和(he)A/D轉換器(qi)組成。通過測量(liang)(liang)(liang)電(dian)路(lu)分別測得標準回路(lu)電(dian)流(liu)與被試回路(lu)電(dian)流(liu)幅(fu)值(zhi)(zhi)及其相(xiang)位差，再(zai)由數(shu)字信號處理器(qi)運(yun)用(yong)數(shu)字化(hua)實時(shi)采集方(fang)法(fa)，通過矢量(liang)(liang)(liang)運(yun)算得出試品的(de)電(dian)容值(zhi)(zhi)和介(jie)質損耗(hao)正切值(zhi)(zhi)。儀器(qi)內部已(yi)經采用(yong)了(le)抗干擾措施，保證在外(wai)電(dian)場干擾下(xia)準確測量(liang)(liang)(liang)。

主要(yao)技術(shu)參數(shu)