介質損耗測試儀價格是發(fa)電(dian)廠、變(bian)電(dian)站等現場或實(shi)驗室(shi)測試(shi)各種高壓電(dian)力設備(bei)介損(sun)正切值及電(dian)容量(liang)的(de)高精度測試(shi)儀器(qi)。儀器(qi)為(wei)一體(ti)化結構，內置介損(sun)測試(shi)電(dian)橋，可(ke)變(bian)頻(pin)調壓電(dian)源，升(sheng)壓變(bian)壓器(qi)和(he)SF6 高穩定度標準電(dian)容器。測試高壓(ya)源由儀器內部的逆(ni)變器產生，經變壓(ya)器升壓(ya)后用于被試品測試。頻率(lv)可變為(wei)45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采(cai)用數字陷波技術，避開了工頻電(dian)(dian)(dian)場(chang)對測試的干擾，從根本上(shang)解決了強電(dian)(dian)(dian)場(chang)干擾下準確測量的難(nan)題。同時適用于全(quan)部停電(dian)(dian)(dian)后用發(fa)電(dian)(dian)(dian)機供電(dian)(dian)(dian)檢測的場(chang)合。

介質損耗測試儀價格特點：

超大液晶中文顯(xian)示

儀器配(pei)備了大屏幕（105mm×65mm）中文(wen)菜單界面，屏顯分為(wei)左(zuo)右兩部分，左(zuo)邊為(wei)功(gong)能(neng)(neng)菜單區，右邊為(wei)相關狀態(tai)信息提示，每一(yi)(yi)步都非常(chang)清楚，操作人員不需要專業培(pei)訓就能(neng)(neng)使用。一(yi)(yi)次操作，微機自動完成全過程的(de)測量，是目前非常(chang)理(li)想的(de)介損(sun)測量設備。

海量(liang)存儲數據

儀器(qi)內部配備有日(ri)歷芯片和大容量存(cun)儲器(qi)，能將檢測結果按時間順序保存(cun)，隨(sui)時可以查看歷史記錄，并可以打印輸出；

科學*數據(ju)管(guan)理

儀器數(shu)據可(ke)以(yi)通過U盤導出(chu)，可在(zai)任意一(yi)臺PC機上通過我公司軟(ruan)件，查看和管理數據并可生成(cheng)工作報告(gao)。

多種測試模(mo)式(shi)

儀器能夠(gou)分別使用內高壓(ya)、外高壓(ya)、內標準、外標準、正接法、反接法、自激法等多種(zhong)方式(shi)測試；在外標準外高壓(ya)情況下可以做(zuo)高電壓(ya)（大于10kV）介質損(sun)耗。

多重保護(hu)安全可靠

儀(yi)器(qi)具備輸入(ru)電壓(ya)波(bo)動、輸出短路、過壓(ya)、過流、溫度(du)等多重保(bao)護措(cuo)施(shi)，保(bao)證了儀(yi)器(qi)安(an)全、可靠。儀(yi)器(qi)還具備接地檢測功能，確保(bao)不(bu)接地設(she)備不(bu)允許(xu)升(sheng)壓(ya)。

工作原理

在(zai)交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓作用(yong)下，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質要消耗部分(fen)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)，這(zhe)部分(fen)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)將轉變為熱能(neng)(neng)(neng)產(chan)生損(sun)(sun)耗。這(zhe)種(zhong)能(neng)(neng)(neng)量損(sun)(sun)耗叫(jiao)做電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質的(de)損(sun)(sun)耗。當電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質上施加交流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓時，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質中(zhong)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)間成在(zai)相角差ψ，ψ的(de)余角δ稱為介(jie)質損(sun)(sun)耗角，δ的(de)正切tgδ稱為介(jie)質損(sun)耗角正切。tgδ值是用來衡量(liang)電介質損耗的參數。儀(yi)器測量(liang)線路(lu)包括一標(biao)準回路(lu)（Cn）和(he)一被(bei)試回(hui)路(lu)(Cx)，如圖2—1所示。標準(zhun)回路(lu)由內置高穩(wen)定度(du)標準(zhun)電(dian)容器與測(ce)量線(xian)路(lu)組成，被(bei)試回路(lu)由被(bei)試品和(he)(he)測(ce)量線(xian)路(lu)組成。測(ce)量線(xian)路(lu)由取(qu)樣電(dian)阻與前置放(fang)大器和(he)(he)A/D轉換(huan)器組成。通過測量(liang)(liang)電路(lu)分(fen)別(bie)測得(de)標準(zhun)回路(lu)電流與被試回路(lu)電流幅值及(ji)其相(xiang)位差，再由數字(zi)信號處理器運用數字(zi)化實(shi)時采集方法，通過矢量(liang)(liang)運算得(de)出試品的電容(rong)值和介質損耗正切值。儀(yi)器內部(bu)已經采用了抗干擾措(cuo)施，保證在外電場干擾下準(zhun)確(que)測量(liang)(liang)。

主要技術參數