介質損耗測試儀廠商是發電(dian)廠、變電(dian)站等現場或實驗室測試各種(zhong)高壓(ya)電(dian)力設(she)備介損正(zheng)切(qie)值及電(dian)容(rong)量的高精度測試儀(yi)器(qi)。儀(yi)器(qi)為(wei)一(yi)體(ti)化結構(gou)，內(nei)置介損測試電(dian)橋，可變頻調壓(ya)電(dian)源，升壓(ya)變壓(ya)器(qi)和SF6 高穩(wen)定度(du)標準(zhun)電容器。測(ce)試高壓(ya)源由儀(yi)器內部的逆(ni)變(bian)器產生，經變(bian)壓(ya)器升(sheng)壓(ya)后用(yong)于被試品測(ce)試。頻率可變(bian)為45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用(yong)數字陷波技術，避開了(le)工頻電(dian)場對測試的(de)干擾，從根本上解決了(le)強電(dian)場干擾下準確測量的(de)難題。同(tong)時適用(yong)于全部停電(dian)后用(yong)發電(dian)機供電(dian)檢測的(de)場合(he)。

介質損耗測試儀廠商特點：

超(chao)大液晶中(zhong)文顯示

儀器配備了大屏幕（105mm×65mm）中文(wen)菜(cai)單(dan)界面，屏顯分為(wei)左右兩部(bu)分，左邊為(wei)功能菜(cai)單(dan)區(qu)，右邊為(wei)相關狀態信息提示，每一(yi)步都非(fei)常清楚，操作(zuo)人員不(bu)需要專(zhuan)業培訓就能使用。一(yi)次操作(zuo)，微機(ji)自動完成全(quan)過程的測量，是(shi)目前非(fei)常理想的介損(sun)測量設備。

海量存儲數據

儀器內部配(pei)備(bei)有(you)日歷芯片和大容量(liang)存儲(chu)器，能將檢測結果按時間順序(xu)保(bao)存，隨時可(ke)以查看歷史(shi)記錄，并可(ke)以打印輸出；

科學(xue)*數(shu)據(ju)管理

儀器數據(ju)可以通(tong)過U盤導出(chu)，可在(zai)任意一臺(tai)PC機上通過我(wo)公(gong)司(si)軟(ruan)件，查看和管理數(shu)據并可生(sheng)成工作(zuo)報(bao)告。

多種(zhong)測試模式

儀器能夠分別使用內(nei)高(gao)壓(ya)、外高(gao)壓(ya)、內(nei)標準、外標準、正接法、反接法、自激法等多(duo)種方式測試；在外標準外高(gao)壓(ya)情況下可以做高(gao)電(dian)壓(ya)（大于10kV）介(jie)質損耗。

多重(zhong)保護安全可靠

儀(yi)(yi)器(qi)具備(bei)輸入電壓(ya)波(bo)動、輸出短(duan)路、過(guo)(guo)壓(ya)、過(guo)(guo)流(liu)、溫度(du)等多重(zhong)保(bao)護(hu)措施，保(bao)證了(le)儀(yi)(yi)器(qi)安全、可靠。儀(yi)(yi)器(qi)還具備(bei)接(jie)地檢測功能，確保(bao)不接(jie)地設備(bei)不允(yun)許升壓(ya)。

工作原理

在交流電(dian)(dian)(dian)壓(ya)作用下，電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)能，這(zhe)部分電(dian)(dian)(dian)能將轉變(bian)為(wei)熱(re)能產(chan)生(sheng)損(sun)(sun)耗(hao)。這(zhe)種能量損(sun)(sun)耗(hao)叫做電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)損(sun)(sun)耗(hao)。當電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)上施加交流電(dian)(dian)(dian)壓(ya)時，電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)中的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)(dian)流間成在相角(jiao)差(cha)ψ，ψ的(de)余角(jiao)δ稱為(wei)介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)角(jiao)，δ的(de)正切(qie)tgδ稱為介質損耗角正切。tgδ值是用來衡(heng)量(liang)電介質(zhi)損耗(hao)的(de)參數。儀器測量(liang)線路(lu)包括一(yi)標準回路(lu)（Cn）和一(yi)被試(shi)回路(Cx)，如圖2—1所示。標準回路(lu)(lu)由內置高穩定度(du)標準電容器(qi)與測量線路(lu)(lu)組成，被(bei)試(shi)回路(lu)(lu)由被(bei)試(shi)品和測量線路(lu)(lu)組成。測量線路(lu)(lu)由取樣電阻與前置放(fang)大(da)器(qi)和A/D轉換器(qi)(qi)組成。通過測量(liang)電路分別測得標準(zhun)回路電流(liu)與被(bei)試(shi)回路電流(liu)幅(fu)值及其相位(wei)差，再由(you)數字(zi)信(xin)號處理(li)器(qi)(qi)運(yun)用(yong)數字(zi)化(hua)實時采集方法(fa)，通過矢量(liang)運(yun)算得出(chu)試(shi)品(pin)的電容值和介質損耗正(zheng)切值。儀器(qi)(qi)內部已經(jing)采用(yong)了抗干(gan)擾(rao)措(cuo)施，保證在外電場干(gan)擾(rao)下準(zhun)確(que)測量(liang)。

主(zhu)要技(ji)術參數