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介質(zhi)損(sun)(sun)耗測(ce)量(liang)儀報價是發電(dian)(dian)廠(chang)、變電(dian)(dian)站等現場或實驗室(shi)測(ce)試(shi)各(ge)種高壓(ya)電(dian)(dian)力設備介損(sun)(sun)正切值及(ji)電(dian)(dian)容量(liang)的(de)高精度(du)測(ce)試(shi)儀器。儀器為一(yi)體化結(jie)構(gou),內置(zhi)介損(sun)(sun)測(ce)試(shi)電(dian)(dian)橋(qiao),可變頻調(diao)壓(ya)電(dian)(dian)源,升壓(ya)變壓(ya)器和SF6 高穩(wen)定(ding)度(du)標準電(dian)(dian)容器。
聯系電話:17351382898
介質損耗測量儀報價是發電(dian)廠(chang)、變(bian)電(dian)站等現(xian)場或(huo)實驗室測(ce)(ce)試各種(zhong)高壓(ya)電(dian)力設(she)備介損(sun)(sun)正切(qie)值及電(dian)容(rong)量(liang)的高精度測(ce)(ce)試儀(yi)器(qi)(qi)。儀(yi)器(qi)(qi)為一體(ti)化結(jie)構,內置介損(sun)(sun)測(ce)(ce)試電(dian)橋,可變(bian)頻調壓(ya)電(dian)源(yuan),升壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)和SF6 高穩定度(du)標準電容器(qi)(qi)。測試(shi)(shi)高壓源(yuan)由(you)儀器(qi)(qi)內部的逆變器(qi)(qi)產生,經變壓器(qi)(qi)升壓后用于被試(shi)(shi)品測試(shi)(shi)。頻率(lv)可變為45Hz或(huo)55Hz,55Hz或65Hz,采(cai)用數字陷波技術,避開了工頻電(dian)場對測試的干擾,從根本上解決了強電(dian)場干擾下準(zhun)確測量的難題。同時適用于(yu)全部(bu)停(ting)電(dian)后用發電(dian)機(ji)供電(dian)檢測的場合。
介質損耗測量儀報價特點:
超大(da)液晶中(zhong)文顯示
儀器配備了大屏幕(105mm×65mm)中(zhong)文(wen)菜(cai)單界面,屏顯分(fen)為左右(you)(you)兩(liang)部分(fen),左邊(bian)為功能菜(cai)單區,右(you)(you)邊(bian)為相關(guan)狀態信(xin)息提示,每一步(bu)都非常清楚,操作人員不需(xu)要(yao)專業(ye)培訓就(jiu)能使用。一次操作,微機(ji)自動完成全(quan)過程(cheng)的測量,是目前非常理想的介損測量設備。
海量存儲數據
儀器內部配備(bei)有日歷芯片和大容量存(cun)儲(chu)器,能(neng)將檢測結(jie)果按時(shi)間順序保存(cun),隨(sui)時(shi)可(ke)以(yi)(yi)查看歷史記錄,并可(ke)以(yi)(yi)打印輸(shu)出;
科學*數據管(guan)理
儀器數據可以通過U盤(pan)導(dao)出,可在任意一(yi)臺PC機上通過我公(gong)司軟件,查(cha)看和管理數據并可(ke)生成(cheng)工作報(bao)告。
多(duo)種測試模式
儀器(qi)能夠分別(bie)使(shi)用內(nei)高(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)壓(ya)、內(nei)標(biao)準(zhun)、外(wai)標(biao)準(zhun)、正接法、反接法、自激法等多種方式測試;在外(wai)標(biao)準(zhun)外(wai)高(gao)壓(ya)情況下可以做高(gao)電(dian)壓(ya)(大于10kV)介質損耗(hao)。
多重保護安全(quan)可靠
儀器具備(bei)輸(shu)入電(dian)壓波動、輸(shu)出短路、過壓、過流(liu)、溫度等多重保(bao)(bao)護(hu)措(cuo)施,保(bao)(bao)證(zheng)了儀器安全(quan)、可靠(kao)。儀器還具備(bei)接(jie)地檢測功能,確保(bao)(bao)不接(jie)地設備(bei)不允許升(sheng)壓。
工作原(yuan)理(li)
在(zai)交(jiao)流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓作用(yong)下,電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng),這部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)將(jiang)轉變為熱能(neng)(neng)(neng)產生損耗(hao)。這種能(neng)(neng)(neng)量損耗(hao)叫做(zuo)電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)的(de)損耗(hao)。當(dang)電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)上(shang)施加交(jiao)流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓時,電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)中(zhong)的(de)電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流(liu)間成在(zai)相角(jiao)差ψ,ψ的(de)余角(jiao)δ稱為介質(zhi)損耗(hao)角(jiao),δ的(de)正切tgδ稱為介(jie)質損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質損耗的參數。儀(yi)器測(ce)量線(xian)路包(bao)括一標準回路(Cn)和(he)一被試回路(lu)(Cx),如圖2—1所示。標準回路(lu)(lu)由內置(zhi)高穩定度標準電(dian)容器與(yu)測量(liang)線(xian)路(lu)(lu)組成(cheng),被(bei)試回路(lu)(lu)由被(bei)試品(pin)和測量(liang)線(xian)路(lu)(lu)組成(cheng)。測量(liang)線(xian)路(lu)(lu)由取樣電(dian)阻(zu)與(yu)前置(zhi)放大器和A/D轉換器(qi)組成。通過(guo)測(ce)量(liang)電(dian)路分別測(ce)得(de)標(biao)準回(hui)路電(dian)流與被(bei)試回(hui)路電(dian)流幅值(zhi)(zhi)及其相位差,再由數(shu)字信號處理器(qi)運(yun)用數(shu)字化實時采(cai)(cai)集方法(fa),通過(guo)矢量(liang)運(yun)算得(de)出試品的(de)電(dian)容值(zhi)(zhi)和介(jie)質損(sun)耗(hao)正切值(zhi)(zhi)。儀(yi)器(qi)內部(bu)已經采(cai)(cai)用了(le)抗干擾措(cuo)施(shi),保(bao)證在外電(dian)場(chang)干擾下(xia)準確(que)測(ce)量(liang)。
主(zhu)要技術(shu)參數
1 | 使(shi)用(yong)條件 | -15℃∽40℃ | RH<80% | ||
2 | 抗干擾(rao)原理 | 變頻法 | |||
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 允許發(fa)電機(ji) | ||
4 | 高壓輸(shu)出(chu) | 0.5KV∽10KV | 每隔(ge)0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
大電流 | 200mA | ||||
容 量 | 1500VA | ||||
5 | 自(zi)激電源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ 55HZ/65HZ | ||
6 | 分 辨 率(lv) | tgδ: 0.001% | Cx: 0.01pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀(du)數*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(讀(du)數*1.0%+1.00PF) | |||||
8 | 測量范圍 | tgδ | 無(wu)限制 | ||
C x | 15pF < Cx < 300nF | ||||
| 10KV | Cx < 60 nF | |||
| 5KV | Cx < 150 nF | |||
| 1KV | Cx < 300 nF | |||
CVT測試(shi) | Cx < 300 nF | ||||
9 | CVT變比范(fan)圍 | 10∽10000 | |||
CVT變比(bi)精度 | 0.1% | ||||
CVT變比分辨率 | 0.01 | ||||
10 | 外型尺寸 | 430(L)×330(W)×330(H) | |||
11 | 存儲器大小 | 200 組 支持U盤數據(ju)存儲 | |||
12 | 重 量 | 28 Kg | |||
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