變壓器介質損耗測量儀廠家是(shi)發電(dian)廠(chang)、變(bian)電(dian)站(zhan)等現場或實驗室測(ce)(ce)試各(ge)種高(gao)壓(ya)電(dian)力設備介(jie)損正切值及電(dian)容量的高(gao)精度測(ce)(ce)試儀器(qi)。儀器(qi)為(wei)一體(ti)化結構，內(nei)置介(jie)損測(ce)(ce)試電(dian)橋，可(ke)變(bian)頻調(diao)壓(ya)電(dian)源，升壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)和SF6 高穩定度標準電容器。測(ce)試高壓源由儀器內(nei)部的(de)逆變(bian)器產生(sheng)，經變(bian)壓器升壓后用(yong)于被(bei)試品(pin)測(ce)試。頻率可變(bian)為45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用(yong)數(shu)字陷(xian)波技術，避開(kai)了工頻電(dian)場(chang)對測試(shi)的(de)干擾，從根本上(shang)解決了強電(dian)場(chang)干擾下準確測量(liang)的(de)難題(ti)。同時適(shi)用(yong)于(yu)全部(bu)停電(dian)后用(yong)發(fa)電(dian)機(ji)供電(dian)檢(jian)測的(de)場(chang)合。

變壓器介質損耗測量儀廠家特點(dian)：

超大(da)液晶中文顯示(shi)

儀器配備了大屏幕(mu)（105mm×65mm）中文菜單界面，屏顯分為左右(you)兩部分，左邊(bian)(bian)為功能(neng)菜單區，右(you)邊(bian)(bian)為相關狀態信(xin)息提示，每一(yi)步都(dou)非常(chang)清楚(chu)，操作(zuo)(zuo)人員不需要專業培訓就能(neng)使用。一(yi)次(ci)操作(zuo)(zuo)，微機自動完成全過程的測量，是(shi)目(mu)前非常(chang)理想的介損測量設備。

海(hai)量存儲數據(ju)

儀器(qi)內(nei)部(bu)配備有(you)日歷芯片和大容量存(cun)儲器(qi)，能將(jiang)檢測結果按時間順序保存(cun)，隨時可以查看歷史(shi)記錄，并可以打印輸出；

科學*數(shu)據管理

儀器數據可以通過(guo)U盤導出，可在(zai)任意一臺PC機上通過我(wo)公(gong)司(si)軟(ruan)件，查看和(he)管(guan)理數據并可生成(cheng)工作報告。

多種測試模式

儀器能夠分別使用(yong)內高(gao)壓、外高(gao)壓、內標(biao)準、外標(biao)準、正接法、反接法、自激法等多(duo)種方式測(ce)試；在外標(biao)準外高(gao)壓情況下可以做高(gao)電壓（大于10kV）介(jie)質損耗。

多重保護安全可靠

儀(yi)器(qi)具備輸入電(dian)壓波動、輸出(chu)短(duan)路(lu)、過(guo)壓、過(guo)流(liu)、溫(wen)度(du)等多重保護措施，保證了儀(yi)器(qi)安全、可靠。儀(yi)器(qi)還具備接地檢(jian)測功能(neng)，確保不(bu)接地設備不(bu)允(yun)許升壓。

工作(zuo)原(yuan)理

在交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓作(zuo)用下，電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)，這(zhe)部分電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)將轉變(bian)為(wei)熱能(neng)(neng)產生(sheng)損(sun)(sun)耗(hao)。這(zhe)種能(neng)(neng)量(liang)損(sun)(sun)耗(hao)叫做電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)的(de)損(sun)(sun)耗(hao)。當電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)上施加交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓時，電(dian)(dian)(dian)介質(zhi)中的(de)電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流(liu)間成在相(xiang)角(jiao)差ψ，ψ的(de)余角(jiao)δ稱為(wei)介質(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)角(jiao)，δ的(de)正(zheng)切tgδ稱(cheng)為介質(zhi)損(sun)耗角正切。tgδ值是(shi)用來衡量電(dian)介質損耗的參(can)數。儀器測量線(xian)路(lu)包括一標準回路(lu)（Cn）和一被試(shi)回路(lu)(Cx)，如圖(tu)2—1所示。標準(zhun)回路由內置高穩定度標準(zhun)電容器(qi)與測(ce)量(liang)(liang)線(xian)路組成，被(bei)試(shi)(shi)回路由被(bei)試(shi)(shi)品(pin)和測(ce)量(liang)(liang)線(xian)路組成。測(ce)量(liang)(liang)線(xian)路由取樣電阻與前置放大(da)器(qi)和A/D轉換器(qi)組成。通過測量電(dian)路分別測得(de)標準回(hui)路電(dian)流與(yu)被試回(hui)路電(dian)流幅(fu)值及其相(xiang)位差，再由(you)數(shu)字信號(hao)處(chu)理器(qi)運(yun)用(yong)(yong)數(shu)字化實時(shi)采(cai)集方法，通過矢(shi)量運(yun)算得(de)出試品的電(dian)容值和(he)介(jie)質損耗正切值。儀器(qi)內部(bu)已經(jing)采(cai)用(yong)(yong)了抗干(gan)擾措施，保證在外(wai)電(dian)場干(gan)擾下準確(que)測量。

主要技術參(can)數